El cobre cubierto de cobalto incrementará el rendimiento y la fiabilidad de los chips

los investigadores han descubierto que combinando las conexiones de cobre con cobertura cobalto puede significar un impresionante incremento de rendimiento y fiabilidad de los chips.

Este descubrimiento podría permitir mayores velocidades y procesos de fabricación más pequeños. Parece que a medida que reducimos el tamaño de los chips las pistas de cobre sufren problemas paratransportar las señales eléctricas, ya que un cable muy fino no soporta bien ciertas tensiones. Además, cuando más finas son las pistas de cobre los defectos son más visibles y más propensas a fallos.


El problema es que a medida que se dispara complejidad de chip, el número de interconexiones de cobre se eleva y en cambio la capacidad del chip de tolerar defectos baja, así que este descubrimiento puede ser relevante antes de cambios más radicales en la fabricación de los chips.



El artículo es bastante largo y completo, así que su lectura puede ser interesante si dominamos el inglés técnico.

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